Test and measurement applications of optoelectronic devices - 21-22 January 2002, San Jose, USA

Författare
Aland K. Chin
(Aland K. Chin ..., chairs/editors.)
Genre
Ej skönlitteratur
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Cop. 2002 USA 180 sidor.